定造化夹具
凭据客户的测试需要，定造有关夹具：
1、自界说背板/衔接器，国内表分立电阻电容电感器件， 自研芯片、线缆等测试夹具
2、切合测试尺度，精确丈量客户待测物的真实机能
3、可凭据测试场景选择TRL/ISD/AFR等多种去嵌步骤，均能齐全去除夹具的影响，去嵌精度:回损-40dB@67GHz，插损±0.1dB@67GHz
国产分立器件测试夹具
5G天线衔接器夹具测试
去嵌精度&测试精度
去嵌方式对比
能够使用多种分歧的去嵌方式实现测试产品DUT，均能保障高精度的去嵌测试
TRL校准精度
TRL去嵌精度做到50Ghz+，IL幼于±0.1db，RL幼于-35db。
仿测校准案例
带SMA头的仿真测试拟合
插损回损拟合
TDR阻抗拟合